Dell Intel PRO Family of Adapters - Manual (Página 155)

Ver la configuración del adaptador
Al seleccionar View Adapter Configuration (Ver la configuración del adaptador) aparece la pantalla de configuración
del adaptador. Esta pantalla describe diversas propiedades del adaptador.
Pulse <F5> para ver información adicional sobre qué ranura PCI Express ocupa el adaptador. Asistencia al cliente
suele utilizar esta información para resolver problemas.
Pulse cualquier tecla para volver a la configuración del adaptador.
Menú de prueba del adaptador
Al seleccionar Test Adapter (Probar adaptador) en el menú principal, aparece el menú Test (Probar). Este menú le
permite seleccionar las pruebas a realizar en el adaptador, así como seleccionar las opciones de prueba.
Begin Adapter Tests (Iniciar pruebas del adaptador)
Al seleccionar esta opción aparece la pantalla de prueba. A medida que se realizan las pruebas, aparece un icono
giratorio que indica al usuario que la aplicación aún está "activa". El resultado de las pruebas se muestra a medida
que se realiza cada prueba. Si se selecciona que se efectúen varias pasadas de pruebas, el área de resultado con-
tiene un recuento de las pruebas fallidas. Si la lista contiene ceros, ello quiere decir que todas las pruebas fueron
correctas. Por cada pasada de cada prueba se visualizará "Passed" (correcta) o "Failed" (incorrecta).
Change Test Options (Cambiar opciones de prueba)
La pantalla de configuración de prueba le permite configurar y elegir las pruebas específicas deseadas. Para cambiar
una opción, mueva el cursor con las teclas de flecha para resaltarla y pulse <Intro>. Escriba el número de pruebas en
el cuadro correspondiente utilizando el teclado. Si hay un espacio libre en el menú, significa que su adaptador no
admite la prueba. De forma predeterminada, los diagnósticos locales se ejecutan automáticamente, mientras que los
diagnósticos de la red están desactivados.
NOTA: La utilidad prueba los atributos que corresponden al adaptador. Sólo se muestran las pruebas com-
patibles.
Device Registers (Registros del dispositivo): se leen, escriben y verifican unos patrones de prueba en los registros de
los dispositivos del adaptador a fin de garantizar la funcionalidad adecuada.
FIFOs: Escribe patrones de bits de prueba en los búferes FIFO del adaptador para asegurarse de que los FIFO fun-
cionen correctamente. No todos los adaptadores tienen FIFO, por lo que no aparecerá en todas las listas de prueba.
EEPROM: esta prueba verifica tanto la legibilidad de la EEPROM como la integridad de los datos almacenados en la
misma. Lee la EEPROM y calcula la suma de verificación. Luego, la suma de comprobación se compara con la que
está almacenada en la EEPROM. Si no concuerdan los valores, la prueba indica un fallo.
Interrupt (Interrupción): la prueba de interrupción verifica la capacidad del adaptador para generar una interrupción y
propagarla a través del sistema hasta el controlador programable de interrupciones (PIC). La prueba activa una inte-
rrupción al establecer el registro de causa de interrupción y luego verifica que se ha activado la interrupción.
Loopback (Bucle cerrado): hay dos pruebas internas de bucle cerrado. Estas pruebas establecen el adaptador en el
modo de bucle cerrado correcto y envían paquetes de retorno mediante la lógica y los circuitos de recepción del adap-
tador. Estas pruebas dependen del chipset y es posible que no puedan seleccionarse.
Link (Enlace): comprueba si el adaptador dispone o no de un enlace.
Network Test (Prueba de red): la prueba de red busca un destinatario y le envía paquetes. Si no se encuentra ningún
destinatario, la prueba indica un fallo. Si se reciben paquetes de regreso devueltos por el destinatario, la prueba es
satisfactoria.
NOTA: En algunos casos, la prueba puede fallar cuando está conectada a un conmutador con el protocolo de
árbol de expansión habilitado.