Dell Broadcom NetXtreme Family of Adapters - Manual (Página 166)

Diagnóstico del usuario: Broadcom Guía del usuario de Broadcom NetXtreme BCM57XX
file:///C|/Users/Nalina_N_S/Documents/NetXtreme/Spanish/dosdiag.htm[9/5/2014 3:41:32 PM]
B1
Memoria
reservada
Esta prueba verifica la memoria SRAM reservada en placa. Se realizan las siguientes pruebas:
Prueba de dirección. Esta prueba escribe cada dirección con un incremento único de datos y los
vuelve a leer para corroborar la exactitud de los datos. Después de completar toda la dirección con
los datos exclusivos, el programa vuelve a leer los datos para corroborar que los datos sean
correctos.
Walking bit. Para cada dirección, el dato uno se escribe y se vuelve a leer para su comprobación.
De inmediato, el dato se mueve a la izquierda un bit y se vuelve dos, y se repite la misma prueba.
La prueba se repite 32 veces hasta que el bit de prueba se mueve fuera de la dirección de prueba. La
misma prueba se repite para todo el alcance de la prueba.
Prueba pseudoaleatoria de datos. Se utiliza un conjunto pseudoaleatorio de datos precalculado
para escribir datos exclusivos en cada RAM de prueba. Después de aprobar la prueba, el programa
vuelve a leer los datos una vez más para comprobar su exactitud.
Prueba de lectura/escritura de datos: Esta prueba escribe datos de prueba a la SRAM y los
vuelve a leer para asegurarse de que los datos sean correctos. Los datos de prueba usados son
0x00000000, 0xFFFFFFFF, 0xAA55AA55 y 0x55AA55AA.
Prueba de patrón de datos alternos. Esta prueba escribe datos de prueba en la SRAM, escribe
datos de prueba complementarios en la dirección siguiente y vuelve a leer ambos para asegurarse de
la exactitud de los datos. Después de la prueba, el programa vuelve a leer los datos una vez más
para corroborar la exactitud de los datos. Los datos de prueba usados son 0x00000000, 0xFFFFFFFF,
0xAA55AA55 y 0x55AA55AA.
B2 BD SRAM
Esta prueba verifica la memoria SRAM del Descriptor de Búfer (BD). Esta prueba ocurre de la misma
manera que la prueba de sección reservada descrita en B1.
B3 DMA SRAM Esta prueba verifica la memoria SRAM de acceso directo a la memoria (DMA) al realizar la prueba de
sección reservada descrita en prueba B1.
B4 MBUF SRAM Esta prueba verifica la memoria SRAM del búfer de acceso a la memoria (MBUF) al realizar la prueba
de sección reservada descrita en prueba B1.
B5
MBUF SRAM
vía DMA
Esta prueba utiliza 8 patrones de prueba de datos. Para esta prueba se utiliza un búfer de datos de
tamaño 0x1000. Antes de probar cada patrón, se inicializa el búfer y se completa con el patrón de
prueba. A continuación, realiza un DMA de transmisión de tamaño 0x1000 desde el búfer central a la
memoria MBUF del adaptador.
La prueba verifica la integridad de los datos en la memoria MBUF del adaptador en comparación con
la memoria central y repite el DMA para todo el búfer de la MBUF. A continuación, la prueba realiza
un DMA de recibo desde el adaptador al host. El búfer de prueba de byte 0x1000 vuelve a 0 antes de
cada DMA de recibo. Después que la prueba verifica la integridad de los datos, se repite para todo el
alcance de la MBUF SRAM. Los 8 patrones de prueba se describen a continuación.
Prueba Descripción de patrones
16 00s and 16 FF's Fills the entire host DMA buffer with 16 bytes of 00s and then 16
bytes of FF's.
16 FF's and 16 00s Fills the entire host DMA buffer with 16 bytes of FF's and then
16 bytes of 00s.
32 00s and 32 FF's Fills the entire host DMA buffer with 32 bytes of 00s and then 32
bytes of FF's.
32 FF's and 32 00s Fills the entire host DMA buffer with 32 bytes of FF's and then
32 bytes of 00s.
00000000 Fills the entire host DMA buffer with all 00s.
FFFFFFFF Fills the entire host DMA buffer with all FF's.
AA55AA55 Fills the entire host DMA buffer with data 0xAA55AA55.
55AA55AA Fills the entire host DMA buffer with data 0x55AA55AA.
B7 CPU GPR
Esta prueba verifica los registros de Propósitos generales de la CPU y funciona de la misma manera
que la prueba de sección reservada (B1) con 3 voltajes diferentes (1,1V, 1,2V, y 1,3V).
Grupo C: Pruebas varias
C1 NVRAM
Los datos de prueba incrementales se utilizan en la prueba de memoria de sólo lectura programable
y borrable eléctricamente (EEPROM). La prueba llena el margen de prueba con datos de prueba y
vuelve a leer los datos para verificar el contenido. Posteriormente, la prueba llena el margen de
prueba con 0s para borrar la memoria.
C2 CPU
Esta prueba abre el archivo Cpu.bin. Si el archivo existe y el contenido es útil, la prueba carga el
código al Rx CPU y al Tx CPU y verifica la ejecución del CPU.
C3 DMA
Esta prueba verifica el acceso directo a la memoria (DMA) de alta prioridad y el DMA de baja
prioridad. La prueba mueve datos de la memoria central a la SRAM del adaptador y verifica los datos.
La prueba de inmediato vuelve a mover los datos a la memoria central para verificar los datos
nuevamente.
La función de prueba de la interfaz independiente del medio (MII) es idéntica a la de la Prueba de
registro de control (A2). Cada registro especificado en el contenido de configuración define el bit de
sólo lectura y los bits de lectura/escritura. La prueba escribe 0 y 1 a los bits de prueba para
asegurarse que los valores de bit de sólo lectura no se cambien y que se cambien los bits de
lectura/escritura.
La prueba trata de leer el archivo de configuración de registro (Miireg.txt) para las definiciones de
registro. Si el archivo no existe, se utiliza la siguiente tabla: