EUCHNER CES-AZ-UES-xxx (Multicode) - Manual (Página 8)

Manual de instrucciones del sistema de seguridad CES-AZ-UES-...
8
Diagramas de bloques CES-AZ-UES-...
CES-AZ-UES-01B
CES-AZ-UES-02B
CES-AZ-UES-04B
0V
TST
UB
CES-AZ-UES-04B
105141
J1 J2 SH1
O1
Read-
head 1
H11
Trans-
ponder
O2
H12
EUCHNER
O3
SH2
O4
Read-
head 2
H21
DIA
Trans-
ponder
H22
23
SH3
24
Read-
head 3
H31
Trans-
ponder
13
H32
14
SH4
Y1
Read-
head 4
H41
Y2
Trans-
ponder
H42
S
K2
+
K1
+
Activación del
proceso de configuración
con puente de cortocircuito
en J1, J2
UB, 0V Alimentación de tensión
J1, J2 Puente de cortocircuito para proce-
so de configuración
H11/H12...H41/H42 Conexión cabeza de lectura 1...4
SH1...SH4
Blindaje de las cabezas de lectura
1..4
TST Entrada de test (véase „Autotest
con entrada de test TST“ página
18)
O1...O4 Salidas de monitorización semicon-
ductoras
DIA Salida de diagnóstico
13, 14 Conexión del contacto de relé A,
habilitación del relé de seguridad
23, 24 Conexión del contacto de relé B,
habilitación del relé de seguridad
Y1, Y2 Circuito de retorno
S Conexión del pulsador de arranque
(vigilancia del flanco descendente)
0V
TST
UB
CES-AZ-UES-02B
105140
J1 J2 SH1
O1
Read-
head 1
H11
Trans-
ponder
O2
H12
EUCHNER
SH2
Read-
head 2
H21
DIA
Trans-
ponder
H22
23 24 13 14
Y1 Y2 S
K2
+
K1
+
Activación del
proceso de configuración
con puente de cortocircuito
en J1, J2
UB, 0V Alimentación de tensión
J1, J2 Puente de cortocircuito para proce-
so de configuración
H11/H12, H21/H22 Conexión de las cabezas de
lectura 1 y 2
SH1, SH2 Blindaje de las cabezas de lectura
1 y 2
TST Entrada de test (véase „Autotest
con entrada de test TST“ página
18)
O1, O2 Salidas de monitorización semicon-
ductoras
DIA Salida de diagnóstico
13, 14 Conexión del contacto de relé A,
habilitación del relé de seguridad
23, 24 Conexión del contacto de relé B,
habilitación del relé de seguridad
Y1, Y2 Circuito de retorno
S Conexión del pulsador de arranque
(vigilancia del flanco descendente)
0V
TST
UB
CES-AZ-UES-01B
105139
J SH1
O1
Read-
head 1
H11
Trans-
ponder
H12
EUCHNER
DIA
23 24 13 14
Y1 Y2 S
K2
+
K1
+
Activación del
proceso de configuración
con puente de cortocircuito
en J, 0V
UB, 0V Alimentación de tensión
J, 0V Puente de cortocircuito para proce-
so de configuración
H11/H12 Conexión de la cabeza de lectura 1
SH1 Blindaje de la cabeza de lectura 1
TST Entrada de test (véase „Autotest
con entrada de test TST“ página
18)
O1 Salida de monitorización semicon-
ductora
DIA Salida de diagnóstico
13, 14 Conexión del contacto de relé A,
habilitación del relé de seguridad
23, 24 Conexión del contacto de relé B,
habilitación del relé de seguridad
Y1, Y2 Circuito de retorno
S Conexión del pulsador de arranque
(vigilancia del flanco descendente)