MTS Sistema de ensayos de materiales MTS - Manual (Página 62)

Funcionamiento del sistema MTS Landmark™ 62
Configuración inicial
Funcionamiento
Configuración inicial
1. Defina las características del ensayo.
Calcule los parámetros del ensayo y defina la configuración del sistema
antes de continuar con el procedimiento de ensayo. Estos cálculos y
configuraciones incluyen lo siguiente:
• Definición del tipo de ensayo
• Selección del modo de ensayo
• Definición del programa de ensayo.
• Selección de la fuente del programa
• Cálculo de las tensiones o desplazamientos que se deben alcanzar
durante el ensayo
• Selección de los cartuchos del rango correcto para los transductores
de control
• Cálculo de los ajustes de control Span (Límites) y Setpoint (Punto
de ajuste)
• Determinación de si las lecturas del transductor deberían ser cero
suprimido para los ajustes de detección de los límites superior
e inferior
• Determinación del error de CC y, si se desea, los niveles de detección
de valores bajo pico
• Determinación de los tipos de portapiezas y sujeciones que hay que
utilizar para sujetar la muestra al bastidor de carga
• Determinación de la posición de la cruceta del bastidor de carga
• Cálculo de los niveles de detección de límites superior e inferior que se
utilizarán durante la instalación de las muestras
• Cálculo de los niveles de detección de límites superior e inferior que se
utilizarán durante el ensayo
• Determinación de las señales que hay que supervisar durante el ensayo
• Selección de los dispositivos de adquisición de datos/lectura externos
que se usarán en el ensayo
• Selección de los transductores apropiados de adquisición de datos
(generalmente, medidores de deformación)