Metrohm 850 Professional IC Anion - Manual (Página 104)

5.1 Anomalías y su solución
￭￭￭￭￭￭￭￭￭￭￭￭￭￭￭￭￭￭￭￭￭￭
94 ￭￭￭￭￭￭￭￭
850 Professional IC –Anion
Problema Causa Remedio
￭ Sustituir la columna de separación (véase
"Conectar y lavar la columna de separa-
ción", página 60).
Eluyente - Burbujas de gas
en el eluyente. Revisar las conexiones del desgasificador de
eluyente (véase Capítulo 2.9, página 30).
Bomba de alta presión –
defectuosa. Ponerse en contacto con el servicio técnico de
Metrohm.
El software no reco-
noce el detector de
conductividad No está conectado.
￭ Comprobar la conexión del cable (32- 1 ).
￭ Desconectar el aparato y volver a conec-
tarlo (transcurridos 15 segundos).
Expansión extrema
de los picos en el
cromatograma.
Fraccionamiento
(picos dobles). Conexiones - Volumen
muerto en el sistema. Revisar las conexiones (véase Capítulo 2.5,
página 12) (utilizar capilares PEEK con un diá-
metro interior de 0,25 mm entre la válvula de
inyección y el detector).
Precolumna – Rendimiento
disminuido. ￭ Sustituir la precolumna (véase Capítulo
2.20, página 57).
Columna de separación –
Volumen muerto en el
cabezal de la columna. ￭ Instalar la columna de separación en el sen-
tido de flujo opuesto (siempre y cuando no
se prohíba en la hoja de información téc-
nica).
￭ Sustituir la columna de separación (véase
"Conectar y lavar la columna de separa-
ción", página 60).
Incremento impor-
tante de la línea
base MSM – capacidad redu-
cida. Regenerar el MSM (véase Capítulo 4.11.3.1,
página 79).
Los cromatogramas
tienen una resolu-
ción baja Columna de separación –
Capacidad de separación
reducida. ￭ Regenerar la columna de separación (véase
Capítulo 4.14.4, página 89).
￭ Sustituir la columna de separación (véase
"Conectar y lavar la columna de separa-
ción", página 60).
Problemas de preci-
sión - dispersión
importante de los
valores medidos Muestra - Burbujas de gas
en la muestra. Utilizar el desgasificador de muestras (véase el
capítulo 2.13, página 38).
Válvula de inyección: bucle
de muestras. Revisar la instalación del loop de muestra
(véase Capítulo 2.14.1, página 40).